Pat
J-GLOBAL ID：200903033610447075

二次電池装置

Inventor：
塩島 信雄

About 塩島 信雄


Applicant, Patent owner：
三洋電機株式会社

About 三洋電機株式会社


Agent (1)： 長門 侃二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001338072
Publication number (International publication number)：2003139827
Application date： Nov. 02, 2001
Publication date： May. 14, 2003
Summary：
【要約】【課題】 二次電池の寿命を、電池温度が安定している条件下で精度良く評価することのできる簡易な構成の二次電池装置を提供する。【解決手段】 ニッケル水素電池からなる二次電池1の端子電圧を検出する電池電圧検出手段5と、前記二次電池の充電中にその充電電流を連続または間欠的にオン・オフさせるスイッチ手段2とを備える。そして充電電流がオフされる直前の電池電圧Vonと、充電電流をオフした後の開放電池電圧Voffとに従って二次電池の内部抵抗Rに相当する値を求める(内部抵抗検出手段14)。そして二次電池の初期時における内部抵抗Rに相当する値Z(int)と、最新の二次電池の内部抵抗Rに相当する値Z(now)とを比較して前記二次電池の寿命を判定する(電池寿命判定手段15)。
Claim (excerpt)：
二次電池の端子電圧を測定する電池電圧測定手段と、前記二次電池の充電中にその充電電流を連続または間欠的にオン・オフさせるスイッチ手段と、このスイッチ手段により前記充電電流がオフされる直前に上記電池電圧測定手段により検出された前記二次電池の電池電圧Vonを記憶するメモリと、前記スイッチ手段により前記充電電流がオフされたときに上記電池電圧測定手段により検出される前記二次電池の開放電池電圧Voffと、前記メモリに記憶された電池電圧Vonとから前記二次電池の内部抵抗Rに相当する値を求める内部抵抗検出手段と、この内部抵抗検出手段により求められた前記二次電池の初期時における内部抵抗Rに相当する値Z(int)と、該内部抵抗検出手段により求められる最新の前記二次電池の内部抵抗Rに相当する値Z(now)とに従って前記二次電池の寿命を判定する電池寿命判定手段とを具備したことを特徴する二次電池装置。
IPC (4)：
G01R 31/36 ,  H01M 10/42 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (4)：
G01R 31/36 A ,  H01M 10/42 P ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 Y
F-Term (25)：
2G016CA00 ,  2G016CB06 ,  2G016CB11 ,  2G016CB12 ,  2G016CB31 ,  2G016CC03 ,  2G016CC10 ,  2G016CC12 ,  2G016CC13 ,  2G016CC23 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  5G003AA01 ,  5G003BA01 ,  5G003CA04 ,  5G003CA14 ,  5G003CA20 ,  5G003CB01 ,  5G003CC02 ,  5G003EA08 ,  5G003GC04 ,  5G003GC05 ,  5H030FF41 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM