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J-GLOBAL ID：200903033695286040

X線撮影検査法における密度および原子番号の分布を求める方法

Inventor：
ハイスマン、ビョルン

About ハイスマン、ビョルン

, 
シュティールシュトルファー、カール

About シュティールシュトルファー、カール


Applicant, Patent owner：
シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト

About シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト


Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003528231
Publication number (International publication number)：2005501684
Application date： Aug. 21, 2002
Publication date： Jan. 20, 2005
Summary：
人間または動物の類の被検体や材料工学および安全性工学における被検体において材料密度および原子番号の分布を求めることを可能にする方法、X線装置およびコンピュータソフトウェア製品が記載されている。第1のX線スペクトルにおける密度および原子番号と第1のX線吸収値との関数的依存関係、および、少なくとも第2のX線スペクトルにおける密度および原子番号と第2のX線吸収値との関数的依存関係が求められる。第1のX線スペクトルにおける被検体の第1のX線吸収値分布画像と、少なくとも1つの第2のX線スペクトルにおける被検体の第2のX線吸収値分布画像とに基づいて、第1のX線吸収値分布における第1X線吸収値の関数的依存関係と、第2のX線吸収値分布および/または他の分布における、第1X線吸収値に対応するX線吸収値の関数的依存関係との比較から密度および原子番号の値が求められる。
Claim (excerpt)：
被検体(503)における密度および原子番号の分布を求める方法において、 第1のX線スペクトルにおける被検体(503)の第1のX線吸収値分布を表示するステップと、 第2のX線スペクトルにおける被検体(503)の第2のX線吸収値分布を表示するステップと、 第1のX線吸収値分布における第1X線吸収値と密度および原子番号との第1の関数的依存関係(11)を算定するステップと、 第2のX線吸収値分布における、第1X線吸収値に対応した第2X線吸収値と密度および原子番号との第2の関数的依存関係(41)を算定するステップと、 第1の関数的依存関係(11)と第2の関数的依存関係(41)および/または他の関数的依存関係との比較から密度および原子番号の値を求めるステップと を有することを特徴とする被検体における密度および原子番号の分布を求める方法。
IPC (3)：
A61B6/00 ,  A61B6/03 ,  G01N23/04
FI (3)：
A61B6/00 333 ,  A61B6/03 373 ,  G01N23/04
F-Term (30)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001EA06 ,  2G001FA02 ,  2G001FA08 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA02 ,  2G001KA01 ,  2G001KA06 ,  2G001KA12 ,  2G001LA01 ,  2G001LA05 ,  4C093AA01 ,  4C093AA22 ,  4C093CA04 ,  4C093CA21 ,  4C093DA06 ,  4C093EA07 ,  4C093EA11 ,  4C093FA18 ,  4C093FA59 ,  4C093FC12 ,  4C093FD11 ,  4C093GA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 放射線診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-334788   Applicant：株式会社東芝
  • 物質の定量測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-325265   Applicant：松下電器産業株式会社
  • 特開昭53-017291
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