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J-GLOBAL ID：200903033751682795

米粒検査装置

Inventor： 藤原 憲明 ,  格内 敏
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (1)： 佐藤 成示 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996316343
Publication number (International publication number)：1998160676
Application date： Nov. 27, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：

【要約】【課題】 米粒の種類を細かく分類することのできる米粒検査装置を提供する。【解決手段】 本発明の米粒検査装置は、米粒を載置する米粒載置板5と、米粒載置板の一面に対向配設した透過光照射部1aと、米粒載置板の他の面に対向配設し、透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像する透過光撮像部1bと、透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の複数領域内の各平均輝度を求める多箇所平均輝度算出部1dと、多箇所平均輝度算出部の出力する複数の平均輝度のばらつきによって部分着色粒か否かを判別する部分着色粒判別部6aとを有して構成してある。

Claim (excerpt)：

米粒を載置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向配設した透過光照射部と、米粒載置板の他の面に対向配設し、透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像する透過光撮像部と、透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の複数領域内の各平均輝度を求める多箇所平均輝度算出部と、多箇所平均輝度算出部の出力する複数の平均輝度のばらつきによって部分着色粒か否かを判別する部分着色粒判別部とを有する米粒検査装置。