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J-GLOBAL ID:200903033781271986

光CT装置及び画像再構成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997342985
Publication number (International publication number):1999173976
Application date: Dec. 12, 1997
Publication date: Jul. 02, 1999
Summary:
【要約】【課題】 精度よくかつ高速に吸収係数分布画像を再構成することが可能な光CT装置及び画像再構成方法を提供する。【解決手段】 光CT装置10は、内部に光学的インターフェース材20が満たされた容器12と、光源22と光スイッチ24からなり、容器12の内部に光を投射する投光部と、光検出器30とシャッター32からなり、容器12の内部からの光を検出する光検出部と、吸収係数の空間的分布を計算する演算/制御部14から主に構成される。演算/制御部14は、容器10の内部に光学的インターフェース材20が満たされている状態で、各検出器30によって実測された光強度信号と、光学的インターフェース材20の一部を測定対象部位200に置き換えた状態で、各検出器30によって実測された光信号の比較に基づいて、測定対象部位200の吸収係数の空間的分布を求める機能を有している。
Claim (excerpt):
内部に光透過性の媒体が入れられた容器と、前記容器の1以上の部位から、前記容器の内部に光を投射する投光手段と、前記容器の1以上の部位で、前記投光手段によって投射された光を検出する光検出手段と、前記容器の内部に前記媒体が入れられている状態で、前記投光手段及び前記光検出手段を用いて実測された、前記媒体を透過して成る透過光の光学特性に関する特徴量と、前記媒体の一部を測定対象部位に置き換えた状態で、前記投光手段及び前記光検出手段を用いて実測された、前記媒体および/または前記測定対象部位を透過して成る透過光の光学特性に関する特徴量の比較に基づいて、測定対象部位の光学特性に関する特徴量の空間的分布を計算する演算手段と、を備えることを特徴とする光CT装置。
IPC (3):
G01N 21/17 ,  A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00
FI (3):
G01N 21/17 A ,  A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00 E

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