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J-GLOBAL ID：200903033825449737

比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方法

Inventor： 榊 利博
Applicant, Patent owner： 大成建設株式会社
Agent (1)： 高野 昌俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996262334
Publication number (International publication number)：1998090201
Application date： Sep. 12, 1996
Publication date： Apr. 10, 1998
Summary：

【要約】【課題】 プローブ近傍の測定感度をより均一にすることができる比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方法を提供すること。【解決手段】 時間領域反射率法によって被測定物質の比誘電率を測定するための被測定物質に設置され、パルス電圧が印加される一対の電極を備えたプローブ1において、電極が一定間隔をあけて対向配置される2枚の導電性板状部材2、3から成り、導電性板状部材2、3の幅Bと間隔Sとの比S/Bを0.2から2の範囲内の値とした。これにより、2枚の導電性板状部材の間におけるエネルギー密度分布が均一となり、測定感度を均一にすることができる。

Claim (excerpt)：

時間領域反射率法によって被測定物質の比誘電率を測定するため被測定物質に設置される一対の電極を備えたプローブの構造であって、該一対の電極が一定間隔をあけて対向配置される2枚の導電性板状部材から成り、該導電性板状部材の幅Bと前記一定間隔Sとの比S/Bが0.2から2の範囲内の値に設定されていることを特徴とする比誘電率測定用プローブの構造。

IPC (3)：

G01N 22/00 ,  G01R 1/06 ,  G01R 27/26

FI (4)：

G01N 22/00 S ,  G01N 22/00 Y ,  G01R 1/06 E ,  G01R 27/26 H