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J-GLOBAL ID：200903033846272012

高分子の結晶品質を評価する方法

Inventor： 新村 信雄 ,  新井 栄揮 ,  茶竹 俊行
Applicant, Patent owner： 財団法人 日本宇宙フォーラム ,  日本原子力研究所
Agent (6)： 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  平山 晃二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003166553
Publication number (International publication number)：2005003489
Application date： Jun. 11, 2003
Publication date： Jan. 06, 2005
Summary：

【課題】高分子の結晶構造解析に用いる結晶の結晶品質を迅速且つ簡便に評価する方法を開発する。【解決手段】複数の結晶の中から任意の一の標準結晶と他の比較結晶とを選択し、それぞれの比較結晶について次式:を用いてWilson Plotを行い、比較結晶と標準結晶との温度因子の差を求め相対的な比較を行うことにより、比較結晶の結晶品質を評価する。【選択図】 図3

Claim (excerpt)：

高分子の構造解析に用いる結晶の結晶品質を評価するための方法であって、Wilson Plotによる見掛けの温度因子を結晶品質評価の尺度に用いることを特徴とする方法。

IPC (1)：

G01N23/20

FI (1)：

G01N23/20

F-Term (5)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001KA08 ,  2G001LA01