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J-GLOBAL ID：200903033962097856

発光法による核酸測定用プレート

Inventor： 植松 宏彰 ,  鶴岡 誠 ,  大門 克哉
Applicant, Patent owner： 東洋紡績株式会社
Agent (1)： 高島 一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992249882
Publication number (International publication number)：1994102182
Application date： Sep. 18, 1992
Publication date： Apr. 15, 1994
Summary：

【要約】【構成】 複数個の試料穴21を有し、各試料穴の少なくとも側部22が遮光処理されていることを特徴とする発光法による核酸測定用プレート2。【効果】 本発明の測定用プレートを用いれば、発光法による核酸測定おいて、隣接する試料穴での発光の干渉を受けず、且つ光の集光性が良いので正確な測定が行える。

Claim (excerpt)：

複数個の試料穴を有し、各試料穴の少なくとも側部が遮光処理されていることを特徴とする発光法による核酸測定用プレート。

IPC (5)：

G01N 21/76 ,  B01J 19/00 ,  C12M 1/00 ,  G01N 33/50 ,  G01N 33/58