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J-GLOBAL ID：200903034028630147
自由空間法電磁波測定システムおよびその評価方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野田 茂
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002088456
Publication number (International publication number)：2003287506
Application date： Mar. 27, 2002
Publication date： Oct. 10, 2003
Summary：
【要約】【課題】 被測定物の材料の電磁波に対する材料定数を精度よく測定することができ、小型化を図る上で有利な自由空間法電磁波測定システムを提供する。また、このような自由空間法電磁波測定システムの評価を簡単に評価することができる評価方法を提供する。【解決手段】 自由空間法電磁波測定システム100は、床面1の上に設置され被測定物2が載置される載置台10と、前記載置台10の上方に配設された電磁波吸収体20と、前記載置台10に設けられ被測定物2に電磁波を放射する送信アンテナ30と、前記載置台10に設けられ前記電磁波が被測定物2で反射された反射波を受信する受信アンテナ40と、前記送信アンテナ30および受信アンテナ40に接続された測定装置とを備えて構成されている。
Claim (excerpt)：
鉛直方向上方に面し被測定物が載置される載置面と、該載置面の下方に位置して鉛直方向下方に面する下面とが設けられ、電磁波が減衰せずに通過可能な材料で構成された載置台と、前記下面に臨んで配設され電磁波を前記載置台の部分を通して前記被測定物に放射する送信アンテナと、前記下面に臨んで配設され前記電磁波が前記被測定物で反射された反射波を前記載置台の部分を通して受信する受信アンテナと、前記受信アンテナで受信された前記反射波の検出レベルに基づいて前記被測定物の反射係数を測定する測定手段と、を備えることを特徴とする自由空間法電磁波測定システム。
IPC (2)：
FI (3)：
G01N 22/00 Y
, G01N 22/00 S
, H01Q 17/00
