テラヘルツ電磁波による粉体物性測定装置および方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：福井國敞 , 穂坂和雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002223884
Publication number (International publication number)：2004061455
Application date： Jul. 31, 2002
Publication date： Feb. 26, 2004
Summary：

【課題】テラヘルツ電磁波による粉体物性測定装置および方法に関するものであり,電磁波分光により粉体の物理的性状を観測することを目的とする。【解決手段】粉体を保持する手段と,粉体にテラヘルツ電磁波を照射する照射手段と,粉体を通過したテラヘルツ電磁波を受信して電気信号に変換する受信手段と,該受信手段の出力をもとに該粉体を通過するテラヘルツ電磁波の粉体の各位置での伝搬時間の差もしくは振幅の差を取得する手段と,該差に基づいて表示装置に粉体の特徴を表示するための画像処理をする画像処理手段とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

粉体を保持する手段と,粉体にテラヘルツ電磁波を照射する照射手段と,粉体を通過したテラヘルツ電磁波を受信して電気信号に変換する受信手段と,該受信手段の出力をもとに該粉体を通過するテラヘルツ電磁波の粉体の各位置での伝搬時間の差もしくは振幅の差を取得する手段と,該差に基づいて表示装置に粉体の特徴を表示するための画像処理をする画像処理手段とを備え, 粉体の特徴を測定することを特徴とする粉体物性測定装置。

IPC (2)：

G01N21/35 , G01N21/41

FI (2)：

G01N21/35 Z , G01N21/41 Z

F-Term (18)：

2G059AA02 , 2G059AA03 , 2G059AA05 , 2G059BB09 , 2G059CC09 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059FF01 , 2G059GG01 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ13 , 2G059JJ14 , 2G059JJ22 , 2G059JJ24 , 2G059MM08 , 2G059MM09 , 2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

防曇性被覆およびこれを用いた光学部品
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-094656 Applicant：キヤノン株式会社

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