Pat
J-GLOBAL ID：200903034086189698
画像形成装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
笹島 富二雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993159472
Publication number (International publication number)：1995072399
Application date： Jun. 29, 1993
Publication date： Mar. 17, 1995
Summary：
【要約】【目的】2つのレーザビームL1,L2の副走査方向における間隔のずれを、簡便な構成で検出する。【構成】2つのセンサB,Cの光ビーム検知領域の主走査始端側の端縁が、主走査方向に対して相互に傾き方向を逆として斜めに交差するように主走査方向に並べて配置する。そして、レーザビームL1のみを点灯させたときに、センサB,CでレーザビームL1が検知される時間差T1を計測させる。また、同様に、レーザビームL2のみを点灯させたときに、センサB,CでレーザビームL2が検知される時間差T2を計測させる。そして、前記時間差T1,T2の偏差T3と、該偏差T3の基準値とを比較して、2つのレーザビームL1,L2の副走査方向での間隔ずれを算出する。
Claim (excerpt)：
複数の光ビームにより記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録させる画像形成装置であって、2つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設する一方、前記複数の光ビームのうちの1つの光ビームのみを前記2つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記2つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される時間差を測定する第1の時間差計測手段と、該第1の時間差計測手段で走査される光ビームとは別の1つの光ビームのみを前記2つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記2つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される時間差を測定する第2の時間差計測手段と、前記第1及び第2の時間差計測手段でそれぞれに計測された時間差の偏差を演算する時間偏差演算手段と、該時間偏差演算手段で演算された偏差と基準値とを比較して、前記第1及び第2の時間差計測手段でそれぞれに選択的に走査された2つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔のずれを検知する副走査方向ずれ検知手段と、を含んで構成されることを特徴とする画像形成装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Return to Previous Page
