磁気ヘッド/ディスク検査器内の高精度位置決め機構の動的特性を改良するための装置及び方法

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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：倉内基弘 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999073388
Publication number (International publication number)：2000003549
Application date： Mar. 18, 1999
Publication date： Jan. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】磁気ディスク/ヘッド検査器、及び検査器の高精度位置決め機構の動的特性を改良する方法を提供することである。【解決手段】テストされる読み出し/書き込みヘッドを支持する第1アクチュエータ及び本体に加えて、スピンスタンドが補助本体及びアクチュエータを備える検査器を提供する。第1システムのアクチュエータの剛性の変形可能な本体の質量に対する比率が、補助システムのアクチュエータの剛性の変形可能な本体の質量に対する比率に等しいように、両方の本体の質量及びアクチュエータの剛性は選択される。

Claim (excerpt)：

低精度位置決め機構及び高精度位置決め機構を有する磁気ヘッド/ディスク検査器の動的特性を改良する方法であって、前記高精度位置決め機構は、テストされる磁気ヘッドを支持する第1本体を含む前記低精度位置決め機構により移動でき、第1駆動手段が前記第1本体と接触し、前記第1駆動手段の動作が前記第1本体に加えられ、第1の力が前記磁気ヘッドに加えて前記第1本体の変位を引き起こし、第2の力を発生する手段を有する前記高精度位置決め機構を提供し、前記第2の力は前記第1の力と同じ大きさで、方向が反対であり、前記第1の力及び前記第2の力は同時に発生して作用し、前記第1本体を変位させるために前記第1駆動手段を動かし、従って、前記磁気ヘッドをテストのために必要とする高精度の位置へ動かし、前記第1の力の結果としてつくり出される反作用を釣り合わせ、前記第1の力を用いて同時に前記第2の力を発生することにより前記低精度位置決め機構に伝達する諸ステップから成ることを特徴とする方法。

IPC (3)：

G11B 19/02 501 , G11B 5/455 , G11B 21/02 601

FI (3)：

G11B 19/02 501 S , G11B 5/455 Z , G11B 21/02 601 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

特開昭52-094988
対物レンズ駆動装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-043170 Applicant：三菱電機株式会社
特開平3-263659

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