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J-GLOBAL ID：200903034124917953
相対位置姿勢計測用ターゲツトマーク
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
渡辺 喜平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991340098
Publication number (International publication number)：1993149748
Application date： Nov. 29, 1991
Publication date： Jun. 15, 1993
Summary：
【要約】【構成】 同一平面上に設けた4個のマーク11,12,13,14と、これとは別の平面上に設けた1個のマーク15とによって構成され、前記マーク11に同一平面上の他のマーク12,13,14と識別するための特徴量を持たせ、これとは別の平面上に設けたマーク15には、他のマーク11,12,13,14と識別するための特徴量を持たせる。【効果】 特徴量を持たせたマークを計測することによって、各マークを簡単に同定することができる。
Claim (excerpt)：
CCDカメラなどでターゲットマークを撮影し、得られた画像データからカメラとターゲットマークとの相対位置姿勢を計測するための相対位置姿勢計測用ターゲットマークにおいて、3個以上のマークが同一直線上に位置しないよう同一平面上に4個のマークを設けるとともに、少なくともこのうちの1個のマークの特徴量を他のマークと異ならせ、かつ上記4個のマークと異なった平面上に設け上記4個のマークとは異なった特徴量を持たせた1個のマークとからなり、かつこれら5個のマークの位置関係が既知である相対位置姿勢計測用ターゲットマーク。
IPC (2)：
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