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J-GLOBAL ID:200903034141407160

測光装置、およびこれを備えた分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 吉田 稔 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997275617
Publication number (International publication number):1999108824
Application date: Oct. 08, 1997
Publication date: Apr. 23, 1999
Summary:
【要約】【課題】 測光装置の温度が上昇してしまうことを回避するとともに、製造コストおよびランニングコストの低減を図る。【解決手段】 光源50から発せられた光を試料に照射し、試料からの反射光または透過光の測光を行う測光装置5において、上記光源50として、白色光を発する白色LEDを用いた。好ましくは、上記白色LEDから発せられた光を分光して所望の波長の光を試料に照射するように、あるいは、試料からの反射光または透過光を分光して所望の波長の光を測光するように構成した。また、上記測光装置5を分析装置1に組み込み、短冊状とされた基材40の表面に長手方向に並ぶようにして、それぞれ所定の成分に特異的に呈色する複数のパッド41が形成された試験片4を分析するように構成した。
Claim (excerpt):
光源から発せられた光を試料に照射し、試料からの反射光または透過光の測光を行う測光装置であって、上記光源は、白色光を発する白色LEDであることを特徴とする、測光装置。
IPC (4):
G01N 21/01 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/75 ,  G01N 33/543 521
FI (4):
G01N 21/01 D ,  G01N 21/27 B ,  G01N 21/75 Z ,  G01N 33/543 521

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