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J-GLOBAL ID：200903034204618817
測長装置および測長装置の精度確認方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
大坪 隆司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996257425
Publication number (International publication number)：1998082630
Application date： Sep. 06, 1996
Publication date： Mar. 31, 1998
Summary：
【要約】【課題】 測長誤差の発生を防止することのできる測長装置および測長装置の精度確認方法を提供することを目的とする。【解決手段】 測長装置における校正作業の終了後、測定テーブル14に設けられた測定ターゲット22における測定ポイントP1〜P9の座標がCCDカメラ17により測定され、RAM33に記憶される。また、被測定物12の長さを測定するに先立ち、測定ポイントP1〜P9の座標がCCDカメラ17により測定され、先に記憶した測定値と比較される。この比較結果が予め設定した許容範囲を超える場合には、CRT19にエラー表示がなされる。
Claim (excerpt)：
被測定物を載置する測定テーブルと、前記測定テーブルの上方に配設され前記被測定物を上方より観察する観察手段と、前記測定テーブルと平行な平面内で前記観察手段と前記測定テーブルとを相対的に移動させる移動手段とを備え、前記観察手段の相対移動量により被測定物の長さを求める測長装置において、前記観察手段の相対移動領域内において複数の座標を表示するための測定ターゲットと、測長装置の精度の校正後に、前記観察手段により前記測定ターゲットを観察して測定した前記複数の座標の測定値を記憶する記憶手段と、被測定物の長さを測定する前に、前記観察手段により前記測定ターゲットを観察して測定した前記複数の座標の測定値を前記記憶手段に記憶された測定値と比較すると共に、これらの測定値の差異が許容範囲内にあるか否かを判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする測長装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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