Pat
J-GLOBAL ID：200903034289228966
光線路試験監視システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001186934
Publication number (International publication number)：2003004587
Application date： Jun. 20, 2001
Publication date： Jan. 08, 2003
Summary：
【要約】【課題】 広帯域通信システムに適応可能で、経済的な光線路試験システムを提供すること。【解決手段】 光伝送装置2、3を接続する光ファイバケーブルの光ファイバ4に試験光を入出力する光カプラ10と、光伝送装置2の直前に配設され、通信光を透過し、試験光を遮断するフィルタ11aと、光ファイバ4の伝送特性を測定する測定手段と、該測定手段を制御する制御手段とを含む光試験装置5と、光試験装置5を遠隔操作する操作端末とを含んで構成される光線路試験監視システムであって、フィルタ11aはTb3+希土類元素イオンをコアまたはコアとクラッドに添加した光ファイバ(Tb3+添加光ファイバ)で構成されている。
Claim (excerpt)：
光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラと、光伝送装置の直前に配設され、通信光を透過し、試験光を遮断するフィルタと、前記光ファイバの伝送特性を測定する測定手段と、該測定手段を制御する制御手段とを含む光試験装置と、該光試験装置を遠隔操作する操作端末とを含んで構成される光線路試験監視システムにおいて、前記フィルタはTb3+希土類元素イオンをコアまたはコアとクラッドに添加した光ファイバで構成されたことを特徴とする光線路試験監視システム。
IPC (2)：
FI (2)：
G01M 11/00 R
, H04B 9/00 K
2G086CC02
, 2G086CC06
, 5K002BA05
, 5K002DA02
, 5K002EA06
, 5K002FA01
