Pat
J-GLOBAL ID：200903034305768976
故障診断方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
木村 高久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994015418
Publication number (International publication number)：1995225610
Application date： Feb. 09, 1994
Publication date： Aug. 22, 1995
Summary：
【要約】【目的】故障診断を迅速かつ、精度よく行う。【構成】故障診断のための各種点検項目をセンサ点検項目と入力データ点検項目とに分類して、センサ点検項目についてはセンサの検出値に基づいてその異常度が演算される。入力データ点検項目については、データ入力により異常度が取得される。故障診断の過程で、各センサの検出値および各センサの異常判定結果が表示され、その表示内容からセンサの検出値を適宜変更修正できるとともに、演算されたセンサ点検項目についての異常度が表示され、その表示内容から異常度を適宜変更修正できる。そして、各種点検項目と各種故障原因との関連度を示すデータと最終的に得られた異常度データとに基づいて、各種故障原因ごとに確信度が演算される。
Claim (excerpt)：
故障診断対象の各種点検項目と該故障診断対象の各種故障原因との関連の度合いを示す関連度データに基づいて前記故障診断対象の故障を診断する故障診断方法において、前記各種点検項目を、前記故障診断対象に配設されたセンサの検出値により点検されるセンサ点検項目と入力されるデータにより点検される入力データ点検項目とに分類した前記関連度データを用意し、該関連度データに基づいて前記故障診断対象の故障を診断するようにした故障診断方法。
IPC (2)：
G05B 23/02
, G05B 23/02 302
