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J-GLOBAL ID：200903034327372480

写真測量装置

Inventor： 桜井 浩 ,  小林 美智男 ,  中川 良文 ,  高田 知典
Applicant, Patent owner： 三井建設株式会社
Agent (1)： 相田 伸二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993091959
Publication number (International publication number)：1994281458
Application date： Mar. 27, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】適正なマッチングを行うことが出来、被写体の立体表面形状を適正に検出することが出来る写真測量装置を提供する【構成】第一写真画像31上に設けられた基準相関窓35に対応して第二写真画像32に設けられた対応相関窓36の大きさと形状を、前記第一写真画像の第一画像平面座標上の画素の座標(i1、j1)、(i2、j2)、(i3、j3)、(i4、j4)、(i5、j5)と、前記第二写真画像の第二画像平面座標上の前記画素に対応する画素の座標(l1、m1)、(l2、m2)、(l3、m3)、(l4、m4)、(l5、m5)の相違に基づいて、変形させ得る対応相関窓変形制御部10を有する写真測量装置100。

Claim (excerpt)：

三次元空間座標内の被写体を前記三次元空間座標上の所定の第一画像平面座標上に撮影した第一写真画像と、前記被写体を前記第一画像平面座標とは異なる、前記三次元空間座標上の所定の第二画像平面座標上に撮影した第二写真画像とを記憶し得る画像記憶部を有し、前記第一写真画像に、該第一写真画像の任意の基準画素を基準として所定の領域を包囲する基準相関窓を設定し得る基準相関窓設定部を有し、前記第二写真画像に、前記基準相関窓に対応した対応相関窓を設定し得る対応相関窓設定部を有し、前記対応相関窓を前記第二写真画像上で移動して、前記基準相関窓内の画像と、前記対応相関窓内の画像との類似度に基づいて、前記基準相関窓の基準画素に対応する第二写真画像の対応画素を検出し得るマッチングポイント検出部を有し、前記第一及び第二写真画像において対応する、前記基準画素と前記対応画素の、前記各写真画像上の位置に基づいて、前記被写体の三次元形状を検出し得る三次元形状検出部を有する写真測量装置において、前記対応相関窓の大きさと形状を、前記第一写真画像の画素の位置と、前記第二写真画像の前記画素に対応する画素の位置との相違に基づいて変形させ得る相関窓変形部を設けて構成した写真測量装置。