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J-GLOBAL ID：200903034351684612
スケールの内挿処理装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松隈 秀盛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992318181
Publication number (International publication number)：1994167354
Application date： Nov. 27, 1992
Publication date： Jun. 14, 1994
Summary：
【要約】【目的】 A/D変換器を用いて角度を算出する位置検出装置のためのスケール内挿処理装置において、スケール移動時のメカ的なずれによって生じるDCオフセット、ゲインレベル及びゲインバランスの誤差、及び位相ずれを電気回路によって自動的に補正すること。【構成】 スケール、センサで検出した正弦波信号と余弦波信号から、DCオフセット値、振巾係数及び位相ずれ量を計算し、それを使って、DCオフセット、ゲインレベル誤差、ゲインアンバランス及び位相ずれを除去した角度信号を出力するようにする。
Claim (excerpt)：
オフセット値を計算する回路と、振巾係数を計算する回路とを含み、センサで検出された正弦波信号から、オフセット値が除かれ、所定の振巾係数を有する正弦波信号を出力する正弦波出力手段と、オフセット値を計算する回路と、振巾係数を計算する回路とを含み、センサで検出された余弦波信号から、オフセット値が除かれ、所定の振巾係数を有する余弦波信号を出力する余弦波出力手段と、前記余弦波信号と正弦波信号の間の測定誤差に因る位相ずれを補正し、正しい測定角度信号を出力する位相補正手段と、前記正しい測定角度信号に基いて、測定周期が1周したことを判定し、前記各手段に同期信号を出力する判定器を有することを特徴とするスケールの内挿処理装置。
IPC (2)：
G01D 5/245 102
, G01D 5/245
