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J-GLOBAL ID：200903034415636676

画像処理装置

Inventor： 段木 亮一 ,  植竹 徹司
Applicant, Patent owner： 川崎製鉄株式会社
Agent (1)： 小杉 佳男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995002828
Publication number (International publication number)：1996189902
Application date： Jan. 11, 1995
Publication date： Jul. 23, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】濃淡画像の対象物のエッジ情報を元に、目視に近い間隔で、容易に、少ない計算量で濃淡画像のテクスチャの定量化。【構成】搬送被検査物の鋼板1が照明2で照らされ、鋼板1の表面の傷や凹み等の欠陥3はカメラ4にて撮像され、鋼板1の表面画像が信号処理回路5でA/D変換され、出力画像データを画像メモリ6に記憶する。この画像メモリ6からの画像データからマスク設定回路7で任意の矩形領域を設定し、微分処理回路8で微分処理し、特徴量算出回路9で、矩形領域内の欠陥のエッジとみなせる所定値以上の微分情報の和又は自乗和と、その微分情報の画素の個数を算出する。欠陥のエッジとみなせる所定値以上の微分情報の和又は自乗和並びに微分情報の画素の個数は夫々、矩形領域内のエッジの強さとコントラスト、並びにエッジの数を表わしており、欠陥有無、存在度判定回路10で、これらに基づいて、鋼板1表面の欠陥の有無、存在度を判断する。

Claim (excerpt)：

濃淡画像を表わす画像データを記憶する画像データ記憶部と、該画像データ記憶部に記憶された濃淡画像の部分領域を切り出すマスク設定部と、該マスク設定部で切り出された部分領域を表わす画像データを微分することにより微分画像データを生成する微分演算部と、該微分演算部で生成された微分画像データのばらつきの程度を表わす第1の指標と、該微分画像データのうち所定値を越える微分画像データを有する画素の数を表わす第2の指標とを求める指標演算部とを備えたことを特徴とする画像処理装置。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  H04N 7/18

FI (2)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 330 N