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J-GLOBAL ID：200903034434622945
粒度分布測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
山川 政樹
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP1998004008
Publication number (International publication number)：WO2000014511
Application date： Sep. 07, 1998
Publication date： Mar. 16, 2000
Summary：
【要約】画像入力部1で被測定粒子群の濃淡画像IGを得る。2値化部2で濃淡画像IGを2値化し2値画像Iを得る。多重解像度近似部3で、2値画像IBと最大展開回数MZから、多重解像度近似を施すことによって、近似画像列IV〔0〕,IV〔1〕,・・・・,IV〔MZ〕を得る。粒子分離部4で、近似画像列IV〔0〕,IV〔1〕,・・・・,IV〔MZ〕と分離パラメータPSとから、粒子分離処理(粒子膨張処理+粒子核抽出処理)を施し、粒子分解画像IS得る。粒度分布算出部5で,粒子分離画像ISに基づき、各粒子の面積から円相当径を求めて各粒子の直径とし、直径を重量比に換算して集計し、粒度分布Hを求める。このようにして粒度分布の測定を高速かつ高精度で行う。
Claim (excerpt)：
被測定粒子群の濃淡画像を得る画像入力手段と、 この画像入力手段により得られた濃淡画像を2値化し2値画像とする2値化手段と、 この2値化手段により2値化された2値画像に対して多重解像度近似を施し近似画像列を得る多重解像度近似手段と、 この多重解像度近似手段により得られた近似画像列に粒子分離処理を施し粒子分離画像を得る粒子分離手段と、 この粒子分離手段により得られた粒子分離画像から粒度分布を算出する粒度分布算出手段と を備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (1)：
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