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J-GLOBAL ID:200903034534487549
環境状況計測方法及びその装置並びに環境状況改善測定方法及びその装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
工業技術院電子技術総合研究所長
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998241039
Publication number (International publication number):2000055702
Application date: Aug. 12, 1998
Publication date: Feb. 25, 2000
Summary:
【要約】【課題】環境に関する多数の因子を全体的、系統的に同時に測定する環境状況計測法法及びそのための装置並びに環境状況改善方法及びそのための測定装置を提供すること【解決手段】測定対象となる特定の区画の土地に物理指標に関する複数のセンサーを配置し、各センサーによる測定結果の出力をマルチプレクサを介してコンピユータに入力し、各センサの測定結果を即座に表示できるようにしたことを特徴とする環境状況測定方法。
Claim (excerpt):
測定対象となる特定の区画の土地に物理指標に関する複数のセンサーを配置し、各センサーによる測定結果の出力をマルチプレクサを介してコンピユータに入力し、各センサの測定結果を即座に表示できるようにしたことを特徴とする環境状況測定方法。
IPC (3):
G01D 21/00
, A01G 7/00 603
, G01N 33/24
FI (3):
G01D 21/00 M
, A01G 7/00 603
, G01N 33/24 B
F-Term (6):
2F076BA17
, 2F076BD07
, 2F076BD13
, 2F076BD16
, 2F076BE09
, 2F076BE11
Patent cited by the Patent: