Pat
J-GLOBAL ID:200903034535290307

制御系の限界ゲインの同定方法およびその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 加古 進
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001121100
Publication number (International publication number):2002318603
Application date: Apr. 19, 2001
Publication date: Oct. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】フィ-ドバック制御系において、限界ゲインを高精度に同定し、制御系の性能を高度に発揮させる。【解決手段】 制御系に可変ゲイン要素10と飽和要素30を挿入して自励振動を生じさせる。適応的にゲインを調整して、出力信号の振幅と周期を同定し限界ゲイン・限界周期を得る。さらに、位相を適応的に調整する機能を付加することによって任意位相における対象の限界ゲインを得ることによって、伝達特性を同定することもできる。
Claim (excerpt):
制御対象の伝達関数を含むフィ-ドバック制御系に対する限界ゲイン同定方法であって、前記フィードバック制御系は、可変ゲイン要素と飽和要素とを有しており、前記可変ゲイン要素の入力からの振幅を計測しながら、下記の式によって前記可変ゲイン要素のゲインを十分に大きなゲインから漸減させ、自励振動が一定振幅に収束するときのゲインを限界ゲインとすることを特徴とするフィ-ドバック制御系の限界ゲインの同定方法。【数1】ここで、k:可変ゲイン要素の値バ-e:e(t)の振幅u0:飽和要素の飽和値β1>0、β2≧0:定数
IPC (2):
G05B 13/02 ,  G05B 11/36 501
FI (2):
G05B 13/02 D ,  G05B 11/36 501 E
F-Term (6):
5H004KA54 ,  5H004KB18 ,  5H004KB22 ,  5H004KB27 ,  5H004KB28 ,  5H004KB30
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
Show all
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page