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J-GLOBAL ID：200903034544932656

大気圧イオン化質量分析装置

Inventor： 三村 忠男 ,  加藤 義昭 ,  松村 和美
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992018121
Publication number (International publication number)：1993217545
Application date： Feb. 04, 1992
Publication date： Aug. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】 大気圧イオン化質量分析装置の分析感度を向上し、同時に構造を堅牢化して信頼性を高め、保守性を向上する。【構成】 試料ガスを導入する第1細孔電極孔の長さを50mm以下とする。また上記第1細孔電極の試料イオン導入孔に長さが50mm以下、内径が0.4mm以下のパイプを嵌合するようにする。また上記ヒ-タにより上記試料イオン導入孔の温度を140°C以下に制御する。

Claim (excerpt)：

イオン化部で生成した試料イオンを第1細孔電極内に導入して試料イオンの質量分析を行なう大気圧イオン化質量分析装置において、上記第1細孔電極の試料イオン導入孔の長さを50mm以下とし、上記試料イオン導入孔の加熱装置を備えたことを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。

IPC (2)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-079657
  
• 特開昭60-127453