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J-GLOBAL ID：200903034591911918
保護膜強度評価装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中村 純之助 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998191874
Publication number (International publication number)：2000028506
Application date： Jul. 07, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：
【要約】【課題】磁気ディスク等記録媒体表面保護膜の強度を評価するために従来は起動・停止繰り返し試験、高速シーク試験、衝撃力印加試験、低速摺動試験等が行なわれてきた。このためこれら評価試験を行なうためには多くの測定器を揃え、長時間かけた測定が必要であった。さらに、微細な錐状の硬質ティップを所定の荷重で保護膜表面に押し付け、この状態で引っ掻き動作を行なうことにより生じる摩擦痕の深さの変化が表面保護膜硬度および保護膜と下層の記録膜との接着強度の関係することが知られている。【解決手段】上記引っ掻き動作中に次第に荷重を変化(例えば増加)するように制御し、この時の摩擦痕の深さと上記荷重の関係をプロットし、予め測定しておいた標準媒体の摩擦痕の深さと上記荷重の関係とを比較することにより上記課題を解決している。
Claim (excerpt)：
尖頭部を有するティップを情報記録媒体の表面に押圧した状態で上記表面の面内方向に移動させる手段と、上記ティップの押圧荷重を制御する手段と、これにより生じる摩耗痕の断面形状を測定する手段と、かつ上記押圧荷重と上記摩耗痕の深さとの関係を求める手段と、この得られた関係を表示する手段とを有したことを特徴とする保護膜強度評価装置。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (22)：
2F063AA15
, 2F063AA43
, 2F063BC09
, 2F063BD07
, 2F063BD13
, 2F063BD20
, 2F063CA11
, 2F063DA02
, 2F063DA04
, 2F063DA21
, 2F063DB03
, 2F063DB05
, 2F063DD02
, 2F063EB01
, 2F063EB15
, 2F063EB18
, 2F063EB23
, 2F063KA01
, 2F063LA12
, 2F063LA16
, 2F063LA22
, 2F063LA23
