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J-GLOBAL ID:200903034592644964

組織分析評価装置、および組織分析評価方法、並びにコンピュータ・プログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 澤田 俊夫 ,  宮田 正昭 ,  山田 英治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004200115
Publication number (International publication number):2006023881
Application date: Jul. 07, 2004
Publication date: Jan. 26, 2006
Summary:
【課題】 組織に対するアンケートなどの調査結果に基づく影響の質を含む組織評価を実行する装置および方法を提供する。【解決手段】 各組織に対するアンケートなどの調査結果に基づいて、例えばある組織が他の組織に与える影響の質を評価する。ある組織が他の組織に与える影響の質を、アンケートの応答結果として取得される影響媒体に対する期待度または想定度と、影響の種類に対する期待度または想定度の高低に基づいて評価する。グラフ上の4象限にそれぞれ影響の質に対応するラベルを設定し、設定ラベルに基づいて影響の質を評価したり、さらにパフォーマンスとの相関を求めるなど、有益な影響の質を含む組織評価処理を実現する。【選択図】 図22
Claim (excerpt):
評価対象となる単位または単位構成員に対するアンケートの応答結果を分析し、評価対象単位が他の単位に与える影響を評価するアンケート分析評価部を有し、 前記アンケート分析評価部は、 前記アンケートの応答結果を分析し、評価対象単位が他の単位に与える影響の質についての分析を実行する構成であることを特徴とする組織分析評価装置。
IPC (2):
G06Q 10/00 ,  G06Q 50/00
FI (2):
G06F17/60 174 ,  G06F17/60 150
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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