波長測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：森田雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000014038
Publication number (International publication number)：2001201407
Application date： Jan. 19, 2000
Publication date： Jul. 27, 2001
Summary：

【要約】【課題】光源として光量変動の多いSLDを用いた場合の波長測定精度を改善する。【解決手段】光源からの照射光の光ファイバブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子の出力の比の対数を用いて前記反射光の波長を測定する波長測定装置であって、光源の発光スペクトルと、光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルと、光ファイバの透過スペクトルと、受光素子の受光感度スペクトルと、アレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルの透過スペクトルとを用いた波長決定関数に基づいて前記反射波長を測定する波長測定装置に関する。光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルの半値全幅を、目標とする波長測定精度が得られるまで大きな値にする。

Claim (excerpt)：

光源からの照射光の光ファイバブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子の出力の比の対数を用いて前記反射光の波長を測定する波長測定装置であって、光源の発光スペクトルと、光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルと、光ファイバの透過スペクトルと、受光素子の受光感度スペクトルと、アレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルの透過スペクトルとを用いた波長決定関数に基づいて前記反射波長を測定する波長測定装置において、光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルの半値全幅を、目標とする波長測定精度が得られるまで大きな値にすることを特徴とした波長測定装置。

IPC (4)：

G01K 11/12 , G01D 5/26 , G01J 3/18 , G01L 1/24

FI (4)：

G01K 11/12 F , G01D 5/26 D , G01J 3/18 , G01L 1/24 A

F-Term (27)：

2F056VF02 , 2F056VF11 , 2F056VF16 , 2F103BA10 , 2F103BA28 , 2F103BA37 , 2F103CA06 , 2F103EB01 , 2F103EB11 , 2F103EB36 , 2F103EC08 , 2F103ED06 , 2F103ED18 , 2F103FA15 , 2G020AA03 , 2G020AA04 , 2G020CB23 , 2G020CB27 , 2G020CB42 , 2G020CB43 , 2G020CC02 , 2G020CC06 , 2G020CC47 , 2G020CD05 , 2G020CD12 , 2G020CD24 , 2G020CD36

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

アクティブマルチポイントファイバーレーザーセンサー
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平6-517318 Applicant：ユナイテッドテクノロジーズコーポレイション
波長監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-244953 Applicant：日本電信電話株式会社

Return to Previous Page