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J-GLOBAL ID:200903034636710498

コンピュータ利用画像分析

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 三好 秀和
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002560082
Publication number (International publication number):2004536367
Application date: Jan. 23, 2002
Publication date: Dec. 02, 2004
Summary:
デジタル化画像データをプロセッサに入力する。このプロセッサにおいて、検出部は、前記画像中に注目領域(対象)を特定し区切ることによって、それら対象を背景から分離する。特徴抽出部は、前記区切った対象から、分類タスクに関係する数値を作成する。これら前処理分析ステップの結果は、教育した学習マシン分類器に入力する。この分類器が提供する出力は、2つの可能な診断を区別するインデックスから成るか、所望出力フォーマットにおける他の出力である。一実施例において、デジタル化画像データを複数のサブシステムに入力する。各サブシステムは、1つ以上のサポートベクトルマシンを有する。前処理は、有用データの抽出を補助する既知の変換を使用しても良い。各サブシステムは、前記画像中に異なる特性または特徴を見つけ、それに関係するデータを分析する。各サブシステムがその分析および分類を完了すると、全サブシステムの出力を全体サポートベクトルマシン分析器に入力し、それらデータを結合し、前記画像から取得した知識を利用して診断、決定、あるいは他の動作を行う。【選択図】図11
Claim (excerpt):
(a)教育用画像データセットとテスト用画像セットとをプロセッサに入力し、 (b)各画像データセットを前処理することにより、当該画像データから少なくとも1つの注目特徴の存在を検出し抽出できるようにし、 (c)前記前処理した画像データセットを使用して、少なくとも1つのカーネルを有する少なくとも1つの学習マシンを教育してテストすることにより、少なくとも1つの注目特徴を複数の推定し得る特性クラスの少なくとも1つに分類し、 (d)前記テスト用画像データセットから分類した特徴と前記テスト用画像データセットの既知結果とを比較し、最適解が得られたか決定し、 (e)最適解が得られなければステップ(c)および(d)を繰り返し、 (f)最適解が得られれば、実画像データセットを前記プロセッサに入力し、 (g)前記実画像データセットを前処理することにより、当該画像データから注目特徴の存在を抽出できるようにし、 (h)前記少なくとも1つの特徴を分類し、 (i)前記実画像データセットから分類した少なくとも1つの注目特徴から成る出力を発生する、デジタル化した画像を分析するためのコンピュータ実行方法。
IPC (7):
G06T7/60 ,  A61B6/00 ,  G06F17/30 ,  G06N3/08 ,  G06T1/00 ,  G06T1/20 ,  G06T7/00
FI (8):
G06T7/60 250A ,  G06F17/30 170B ,  G06F17/30 210D ,  G06N3/08 Z ,  G06T1/00 290A ,  G06T1/20 B ,  G06T7/00 300H ,  A61B6/00 350D
F-Term (39):
4C093AA26 ,  4C093CA18 ,  4C093DA06 ,  4C093FF17 ,  4C093FF28 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CH04 ,  5B057DA12 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC13 ,  5B057DC16 ,  5B057DC40 ,  5B075ND08 ,  5B075NK39 ,  5B075NR12 ,  5B075QP01 ,  5B075QS03 ,  5B075UU29 ,  5L096AA06 ,  5L096BA08 ,  5L096BA13 ,  5L096EA43 ,  5L096FA23 ,  5L096FA26 ,  5L096FA39 ,  5L096FA59 ,  5L096FA64 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA51 ,  5L096GA55 ,  5L096JA11 ,  5L096JA20 ,  5L096JA28 ,  5L096KA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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