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J-GLOBAL ID：200903034683275929

フロー式粒子画像解析方法および装置

Inventor： 堀内 秀之 ,  浅井 英規
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高田 幸彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995227978
Publication number (International publication number)：1997072842
Application date： Sep. 05, 1995
Publication date： Mar. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】粒子検出系で検出した粒子と、検出粒子静止画像と対応をつけることにより測定精度を改善する。【解決手段】フローセル100にサンプルを流し、レーザ光束10により粒子の通過を検出し、その検出に基づいてパルスランプ1を発光させ、粒子の静止画像をTVカメラ8で撮像し、画像処理を行う。粒子解析手段103の分類結果収集部にて、粒子検出手段102で検出した粒子と粒子解析手段103での画像処理した個々の粒子画像の粒子サイズを使って対応付けを行うことにより、サンプル中の粒子の粒子解析を行う。

Claim (excerpt)：

次のステップを含むフロ-式粒子画像解析方法。(1)液体サンプルをフロ-セルに流し、そのフロ-セルの予め定められた位置を測定時間中に通る前記液体サンプル中の粒子を検出しその数を計数すること、(2)その計数された粒子数から統計学的に予想される粒子解析対象粒子数を算出すること、(3)前記粒子検出に基づいて前記フロ-セルの撮像領域を通る粒子を撮像してその静止画像を得ること、(4)その静止画像を処理してその画像中の粒子のサイズデ-タを得ること、(5)そのサイズデ-タに基づいて、前記処理した全静止画像中の粒子のうちの粒子サイズの大きい方の粒子を前記算出された粒子解析対象粒子数だけ選択し、その選択された粒子について粒子解析を行うこと。

IPC (5)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02 ,  G01N 33/48 ,  G01N 33/49 ,  G01N 33/493

FI (5)：

G01N 15/14 K ,  G01N 15/02 B ,  G01N 33/48 M ,  G01N 33/49 A ,  G01N 33/493 B