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J-GLOBAL ID：200903034691900433

レーザビーム走査装置

Inventor： 吉川 浩寧 ,  山崎 行造 ,  大川 正徳 ,  高島 裕一郎
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 三井 和彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992184249
Publication number (International publication number)：1994027398
Application date： Jul. 13, 1992
Publication date： Feb. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】レーザビームを射出して走査するためのレーザビーム走査装置に関し、垂直振動方向と水平振動方向のビームウェストの調整を簡単な構成で簡単に行うことができるレーザビーム走査装置を提供することを目的とする。【構成】レーザビームを射出する半導体レーザ11と、上記レーザビームを収束させ、且つ垂直振動方向のビームウェスト位置と水平振動方向のビームウェスト位置とを独立して制御するために、上記レーザビームの光軸に対して傾けて、上記半導体レーザ11のレーザビーム射出端の近傍に配置された収束レンズ12と、上記収束レンズ12を通過したレーザビームの進行方向を継続的に規則的に変化させるためのビーム走査手段20とを設けて構成する。

Claim (excerpt)：

レーザビームを射出する半導体レーザ(11)と、上記レーザビームを収束させ、且つ垂直振動方向のビームウェスト位置と水平振動方向のビームウェスト位置とを独立して制御するために、上記レーザビームの光軸に対して傾けて、上記半導体レーザ(11)のレーザビーム射出端の近傍に配置された収束レンズ(12)と、上記収束レンズ(12)を通過したレーザビームの進行方向を継続的に規則的に変化させるためのビーム走査手段(20)とを設けたことを特徴とするレーザビーム走査装置。

IPC (5)：

G02B 26/10 ,  G02B 26/10 102 ,  B41J 2/44 ,  G06F 15/64 320 ,  H04N 1/04 104

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-316819
  
• 特開昭61-175617