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J-GLOBAL ID：200903034703890145

セラミックハニカム構造体表面のクラック検出方法

Inventor： 染次 孝博
Applicant, Patent owner： 日立金属株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002002460
Publication number (International publication number)：2003207472
Application date： Jan. 09, 2002
Publication date： Jul. 25, 2003
Summary：

【要約】【課題】 セラミックハニカム構造体の表面、特に端面に発生する微細なクラックを確実に検出する方法を提供する。【解決手段】 隔壁により仕切られた多数のセルを有するセラミック製ハニカム構造体に温度勾配を発生させ、セルが開口する端面の表面温度分布を測定し、得られた温度分布からセル配置に伴う特有の周期的温度変化分を取り除き、その後の温度分布にクラックの特徴を強調する選択処理を行ってクラックを顕在化させることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

隔壁により仕切られた多数のセルを有するセラミック製ハニカム構造体に温度勾配を発生させ、表面温度分布を測定し、得られた温度分布にクラックの特徴を強調する選択処理を行ってクラックを顕在化させることを特徴とするセラミックハニカム構造体表面のクラック検出方法。

IPC (2)：

G01N 25/72 ,  B01D 39/20

FI (2)：

G01N 25/72 Y ,  B01D 39/20 D

F-Term (16)：

2G040AA06 ,  2G040AB08 ,  2G040BA02 ,  2G040BA25 ,  2G040CA02 ,  2G040CA23 ,  2G040DA06 ,  2G040DA12 ,  2G040EB02 ,  2G040HA02 ,  2G040HA11 ,  4D019AA01 ,  4D019BA05 ,  4D019BB06 ,  4D019CA01 ,  4D019CB10