Pat
J-GLOBAL ID:200903034768120665

減感インキ量測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 蓮見 勝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993248889
Publication number (International publication number):1995103896
Application date: Oct. 05, 1993
Publication date: Apr. 21, 1995
Summary:
【要約】【目的】種々の感圧複写紙に適用できかつ効率的な減感インキ量測定方法、装置を提供する。【構成】減感インキ自体に蛍光物質を添加して、紫外線照射による発光強度を測定し、発光強度とインキ塗布量との相関関係の下降特性部分からシートに塗布された減感インキ量を求める。
Claim (excerpt):
減感インキ自体に蛍光物質を添加して、紫外線照射による発光強度を測定し、発光強度とインキ塗布量との相関関係の下降特性部分からシートに塗布された減感インキ量を求めることを特徴とする減感インキ量測定方法。
IPC (3):
G01N 21/64 ,  B41M 5/124 ,  G21K 5/02

Return to Previous Page