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J-GLOBAL ID：200903034793008446

FFTアナライザ

Inventor： 三宅 潤
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992189345
Publication number (International publication number)：1994034681
Application date： Jul. 16, 1992
Publication date： Feb. 10, 1994
Summary：

【要約】【目的】 窓関数を用いながらも純度の高いスペクトラムが得られるFFTアナライザを実現することにある。【構成】 測定アナログ入力信号をA/D変換器に加えてデジタル信号に変換し、このデジタル信号に対して窓関数を乗算した後FFT演算処理を行うFFTアナライザにおいて、A/D変換器の出力データを波形データとして格納する第1のメモリと、第1のメモリに格納された波形データと窓関数の相対位置をFFTのサンプリング周期の整数倍の時間関係で複数の位置にずらせるように制御するトリガ制御回路と、トリガ制御回路で設定されたそれぞれの位置関係における複数のFFT演算処理データ列を格納する第2のメモリと、第2のメモリに格納された複数のFFT演算処理データ列を平均化演算する平均化回路を設けたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

測定アナログ入力信号をA/D変換器に加えてデジタル信号に変換し、このデジタル信号に対して窓関数を乗算した後FFT演算処理を行うFFTアナライザにおいて、A/D変換器の出力データを波形データとして格納する第1のメモリと、第1のメモリに格納された波形データと窓関数の相対位置をFFTのサンプリングクロック周期の整数倍の時間関係で複数の位置にずらせるように制御するトリガ制御回路と、トリガ制御回路で設定されたそれぞれの位置関係における複数のFFT演算処理データ列を格納する第2のメモリと、第2のメモリに格納された複数のFFT演算処理データ列を平均化演算する平均化回路、を設けたことを特徴とするFFTアナライザ。