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J-GLOBAL ID:200903034849814602

分析システムおよび分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山本 秀策
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1998507997
Publication number (International publication number):2000515630
Application date: Jul. 31, 1997
Publication date: Nov. 21, 2000
Summary:
【要約】分析あるいは調整システムは、ベースユニット(12)、アダプタ(14)および基板(16)を備える。アダプタ(14)はベースユニット(12)上の取り付け領域に取り付けられ、基板(16)はアダプタ(14)上の取り付け領域に取り付けられる。アダプタ(14)によってベースユニット(12)は非常に様々な異なる基板(16)とインターフェースをとることが可能になり、それによって化学的および生物学的分析および調整手順を行うことが可能になる。
Claim (excerpt):
少なくとも一つのインターフェース構成要素を内部に含むベースインターフェースアレイを有する取り付け領域を有するベースユニットと、 該取り付け領域に取り外し可能に取り付けられるように構成されている、アダプタであって、該アダプタが該取り付け領域、基板取り付け領域、および少なくとも一つのインターフェース構成要素を内部に有するアダプタ-基板間インターフェースに取り付けられると、該ベースインターフェースアレイ内の対応するインターフェース構成要素と嵌合するように配置された少なくとも一つのインターフェース構成要素を含むアダプタ-ベース間インターフェースアレイを含む、アダプタと、 該アダプタの該基板取り付け領域に取り外し可能に取り付けられるように構成されている基板であって、該基板が該基板取り付け領域に取り付けられると、該アダプタ-基板間インターフェースアレイ中の対応するインターフェース構成要素と嵌合するように配置される少なくとも一つのインターフェース構成要素を含む基板インターフェースアレイを有する基板と、を備えた、物質を取り扱うためのシステム。
IPC (2):
G01N 35/08 ,  G01N 1/00 101
FI (2):
G01N 35/08 A ,  G01N 1/00 101 F
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 特開昭61-210959
  • 化学分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-232791   Applicant:株式会社日立製作所
Cited by examiner (2)
  • 特開昭61-210959
  • 化学分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-232791   Applicant:株式会社日立製作所

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