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J-GLOBAL ID：200903034855539958

超音波探傷装置

Inventor： 木暮 澄夫 ,  樋口 真一 ,  吉田 洋司
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998054707
Publication number (International publication number)：1999248690
Application date： Mar. 06, 1998
Publication date： Sep. 17, 1999
Summary：

【要約】【課題】欠陥の端部位置を超音波探傷により、高精度で測定する。【解決手段】走査機構8に搭載され、被検査物1にセットされた探触子構造体3は電子走査機能付きで、かつ電子位相制御集束型可変角走査機能を有する送信探触子4とその前方に配した欠陥の端部エコーを受信するための固定角の受信探触子6で構成されている。この自動探傷走査において、まず端部エコーを最大感度で検出する走査機構8の座標を求め、この位置で超音波探傷制御器15で送信探触子4の超音波集束距離をほぼ欠陥端部に自動調整した後、可変角,電子走査により欠陥の端部エコーデータをデータ収録演算制御装置16に収録する。ここで各可変角走査の送信超音波入射点と端部エコー最大値検出点を結んだ多数の直線の交点を欠陥端部として求め、欠陥のサイジングを行う。

Claim (excerpt)：

欠陥に近い位置に受信探触子を、前記受信探触子の位置にくらべて相対的に前記欠陥に遠い位置に送信探触子として可変角超音波探触子を置いた探触子構造体と、少なくとも前記送信探触子から被検査体表面への超音波入射点を変化させる手段と、前記受信探触子からの受信信号に基づくデータの処理手段と、前記処理手段からのデータの表示手段とを備えた超音波探傷装置において、前記データの処理手段は、前記超音波入射点と前記欠陥の端部の超音波反射波の見掛け上の超音波反射点とを結んだ複数の直線の交点を欠陥の端部として算定する欠陥端部評定処理部を備え、前記表示手段は、前記処理手段と前記算定結果を表示するように接続されていることを特徴とする超音波探傷装置。

IPC (2)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504

FI (2)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504