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J-GLOBAL ID：200903034903237136

炭素同位体分析装置

Inventor： 東 陽二
Applicant, Patent owner： 日本無線株式会社
Agent (1)： 千葉 剛宏 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996110993
Publication number (International publication number)：1997297061
Application date： May. 01, 1996
Publication date： Nov. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】12CO2 と13CO2 の光吸収スペクトルを高精度かつ短時間に測定することを可能とし、しかも炭素の安定同位体の精度信頼性の高い存在比(同位体比)を求めることを可能とする。【解決手段】周波数fで僅かに変調されかつ波長掃引された2μm帯の半導体レーザ(LD)13から出射されるレーザ光を、呼気試料セル2内を通過させ、光検出器14により光電変換信号を得る。光電変換信号中の光吸収成分の2f成分をロックイン増幅器15により検出し、一方、光吸収スペクトルの3f成分をロックイン増幅器16により検出する。3f成分のゼロクロス点に対応する12CO2 と13CO2 の2fスペクトル信号強度を上下3点のピーク値より求め、求めた両スペクトルの強度比より炭素の同位体比を算出する。

Claim (excerpt)：

光吸収スペクトルより炭素の同位体比を分析する装置において、2μm帯の半導体レーザと、前記半導体レーザの発振波長を掃引する手段と、前記半導体レーザに周波数fの変調をかける発振器と、CO2 の試料セルを通過したレーザ光から光吸収スペクトルを検出する光検出器と、前記光吸収スペクトルの2f成分を検出するロックイン増幅器と、前記光吸収スペクトルの3f成分を検出するロックイン増幅器と、前記ロックイン増幅器で検出した3f成分のゼロクロス点に前記半導体レーザの発振波長をロックする手段とを有し、12CO2 と13CO2 のスペクトル強度を、各々の前記2fスペクトルの上下3点のピーク値より求め、求めた両スペクトルの強度比より炭素の同位体比を検出することを特徴とする炭素同位体分析装置。

IPC (2)：

G01J 3/42 ,  G01N 21/39

FI (2)：

G01J 3/42 U ,  G01N 21/39

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 炭素同位体分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-173052   Applicant：日本無線株式会社
• 特開昭60-253952