Pat
J-GLOBAL ID:200903034945072650

X線診断装置及びその制御方法及び記憶媒体

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大塚 康徳 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000393335
Publication number (International publication number):2002209881
Application date: Dec. 25, 2000
Publication date: Jul. 30, 2002
Summary:
【要約】【課題】 被検体内に金属が含まれるか否かを高い精度で検出する。【解決手段】 X線CTシステムにおいて、ガントリ装置の回転を停止状態にして、X線の照射と検出及び被検体の搬送を行うことで、被検体のスカウト像を得る(S1)。そして、このスカウト像から低周波成分或いは背景成分を除去し(S2、S3)、その除去した像のデータを、スカウト像から減じ(S4)、所定の閾値を用いて2値化する(S5)。領域番号付け(ラベリング)処理(S6)後、2値化後の“1”となっている或る面積以上の連続領域について、特徴パラメータを抽出し(S7)、その特徴パラメータに基づいて該当する領域が金属物であるかどうかを判断する(S10)。または、産業用分野のラインセンサX線システム等において、X線透視像を得て(S1)、上記S2、S3、S4、S5、S6、S7後、金属物・異物・欠陥であるかを判断し(S10)、金属物・異物・欠陥のある製品・材料・食品をはねる。
Claim (excerpt):
被検体を透過したX線を検出して前記被検体内の金属物の有無を診断するX線診断装置であって、X線吸収率を示す、前記被検体の二次元X線像を入力する入力手段と、入力した二次元X線像の低周波成分或いは背景成分を、所定のフィルタを用いることで除去する除去手段と、前記入力手段で入力した二次元X線像から、前記除去手段で得られた二次元X線像を減じ、所定閾値と比較することで2値化する2値化手段と、該2値化手段で得られた2値画像の有意なビットの連続する領域毎に、当該領域の特徴パラメータを抽出するパラメータ抽出手段と、該パラメータ抽出手段で得られた特徴パラメータに基づき、各領域が金属物であるか否かを判断する判断手段とを備えることを特徴とするX線診断装置。
F-Term (12):
4C093AA22 ,  4C093BA03 ,  4C093CA13 ,  4C093EA02 ,  4C093EB17 ,  4C093FD01 ,  4C093FD08 ,  4C093FE18 ,  4C093FF15 ,  4C093FF18 ,  4C093FF23 ,  4C093FF28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page