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J-GLOBAL ID：200903035032446918
質量分析計
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992089447
Publication number (International publication number)：1993258712
Application date： Mar. 14, 1992
Publication date： Oct. 08, 1993
Summary：
【要約】【目的】 大気中のプラズマ炎よりイオンを引き出して質量分析計に導入する場合、イオン引出し部の効率を低下させず、プラズマの光が質量分析計のイオン検出部に入射するのを阻止する。【構成】 イオン引出し用スキマーコーン2の真空側でスキマーコーン中心線上にスキマーコーンの先端に向かって延びる棒状導体の遮光体4を配置した。【効果】 上記導体は遮光と共にスキマコン内のイオン引出し電界をコーン先端近くに集中させる効果があり、イオン引出し効率は却って向上する。
Claim (excerpt)：
サンプリングコーンと、その後のスキマコーンと、更にその後のイオン引出し電極とよりなる、大気圧下から質量分析部へのイオン導入部において、外光の質量分析部への進入を阻止する遮光体を細長い形にし、スキマコーンの後方でスキマコーンとサンプリングコーンの先端開口を連ねる軸線上にその長軸を一致させ、先端をスキマコーンの先端に近接させて配置したことを特徴とする質量分析計。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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