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J-GLOBAL ID：200903035319250771
3次元形状計測装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森田 寛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993010385
Publication number (International publication number)：1994221825
Application date： Jan. 26, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：
【要約】【目的】3次元構造物の形状を認識する3次元形状計測装置に関し,3次元形状の計測において平滑な面を検出し補間可能にすることを目的とする。【構成】パターン光照射部10により,計測対象物Xおよび背景物体Yに文様を生じさせるパターン光を照射する。これにより,平滑な面に対してエッジ特徴点を生じさせ,3次元情報抽出部50によって,画像入力部20から入力された複数枚の画像および運動情報入力部40から入力された運動情報を用いて被写体の3次元情報を抽出する。この結果から,3次元面の存在を判定し, その面情報を蓄積して3次元面情報を得る。
Claim (excerpt)：
3次元的な構造を有する計測対象物の形状を認識する3次元形状計測装置において,計測対象の3次元物体に文様を生じさせるパターン光を照射するパターン光照射部と,該3次元物体の画像を複数の視点から複数枚入力する画像入力部と,該画像入力部の画像入力時における位置/姿勢情報を入力する運動情報入力部と,前記画像入力部から入力された複数枚の画像および前記運動情報入力部から入力された運動情報を用いて,複数枚の画像から被写体の3次元情報を抽出する3次元情報抽出部と,該3次元情報抽出部が出力した3次元座標を入力とし3次元面の存在を判定する面存在判定部と,該面存在判定部が出力した面情報を蓄積し3次元面を生成する面情報生成部と,該面情報生成部で生成された3次元面情報を出力する出力部とを備えたことを特徴とする3次元形状計測装置。
IPC (3)：
G01B 11/24
, G06F 15/62 415
, G06F 15/64
