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J-GLOBAL ID:200903035334076770

密度計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 塚本 正文 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994066629
Publication number (International publication number):1995248315
Application date: Mar. 10, 1994
Publication date: Sep. 26, 1995
Summary:
【要約】【目的】 校正が不要になり、そのため流体密度の長時間の自動計測を行う場合装置が単純になるとともに、信頼性の高い密度計測を正確迅速に行うことができる密度計測装置を提供する。【構成】 密度を計測しようとする供試流体1に接するとともに超音波振動子3及び温度センサー4が取付けられたカプラー2と、超音波振動子3に接続された超音波発振器5と、超音波振動子3及び温度センサー4に接続された演算器6とからなり、カプラー2と供試流体1との境界からの超音波反射波強度から演算器6で供試流体1の密度を演算計測する。
Claim (excerpt):
密度を計測しようとする供試流体に接するとともに超音波振動子及び温度センサーが取付けられたカプラーと、上記超音波振動子に接続された超音波発振器と、上記超音波振動子及び温度センサーに接続された演算器とからなり、上記カプラーと供試流体との境界からの超音波反射波強度から供試流体の密度を演算計測することを特徴とする密度計測装置。
IPC (2):
G01N 29/02 ,  G01N 9/00

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