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J-GLOBAL ID：200903035335410339

ガラス基板保持手段及び放射線撮影装置

Inventor： 多胡 晃
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996352632
Publication number (International publication number)：1998171047
Application date： Dec. 13, 1996
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：

【要約】【目的】 高耐振動性、高耐衝撃性、高耐温度特性を有しながら薄肉大面積のガラス基板を確実に保持する。【構成】 取付部材4にロの字状の第1の弾性部材5を貼着し、その上に放射線検出手段10を配置する。そして、取付部材4と第1の弾性部材5と放射線検出手段10のガラス基板6により第1の略密閉空間11を形成し、その略中央部に第2の弾性部材13を固定する。大型のガラス基板6から成る放射線検出手段10を、このように弾性部材5、13を介して取付部材4に固定することにより、弾性部材5、13の耐衝撃性、耐振動性、耐熱膨張性を利用して安定して確実に保持することができる。

Claim (excerpt)：

半導体薄膜素子を形成したガラス基板を有する検出手段と、該ガラス基板の半導体薄膜素子面と反対面の略外周部に配置した第1の弾性部材と、該第1の弾性部材を前記検出手段と共に挟持するように配置した取付部材と、前記ガラス基板、前記第1の弾性部材、前記取付部材によって囲んだ略密閉空間内の略中央部に配置し前記ガラス基板と前記取付部材間に介在した第2の弾性部材とを有することを特徴とするガラス基板保持手段。

IPC (4)：

G03B 42/02 ,  A61B 6/00 300 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/20

FI (4)：

G03B 42/02 Z ,  A61B 6/00 300 S ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/20 Z