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J-GLOBAL ID:200903035399458467

距離計測方法、その装置、そのプログラム、その記録媒体及び距離計測装置搭載型ロボット装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小池 晃 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002073383
Publication number (International publication number):2003269917
Application date: Mar. 15, 2002
Publication date: Sep. 25, 2003
Summary:
【要約】【課題】 信頼度が低い部分を含む画像においても、照度及び対象物に関係なく、高精度に距離情報を取得することができる距離計測方法、その装置、そのプログラム、その記録媒体及び距離計測装置搭載型ロボット装置を提供する。【解決手段】 ステレオ距離計測装置501は、異なるパラメータで、ステレオカメラ510により撮像された複数枚のステレオ画像511から、信頼度画像生成計算部520及び距離画像生成計算部530にて夫々複数の信頼度画像521及び距離画像531が生成される。これらの画像から、画像マスキング処理部540及び低信頼度補完処理部550にて、信頼度画像521内の所定の閾値より高い高信頼度領域における距離画像の距離データが合成され、低信頼度領域における距離データは高信頼度領域における距離データにより補間し、距離画像が生成される。
Claim (excerpt):
視差を有する2以上の画像を入力する画像入力工程と、上記2以上の画像から距離データを算出し該距離データから距離画像を生成する距離画像生成工程と、1つの上記距離画像を生成するのに使用した上記2以上の画像の少なくとも1つから信頼度画像を生成する信頼度画像生成工程と、上記信頼度画像の信頼度に基づいて補正距離画像を生成する距離画像補正工程とを有し、上記距離画像補正工程は、上記信頼度画像の信頼度が所定の閾値よりも低い低信頼度領域を有するときは、上記信頼度を高める信頼度向上処理工程を有することを特徴とする距離計測方法。
IPC (7):
G01B 11/00 ,  B25J 5/00 ,  B25J 19/04 ,  G01C 3/06 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 400 ,  G06T 7/60 180
FI (7):
G01B 11/00 H ,  B25J 5/00 F ,  B25J 19/04 ,  G01C 3/06 V ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 400 M ,  G06T 7/60 180 B
F-Term (61):
2F065AA06 ,  2F065AA20 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065CC16 ,  2F065DD09 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065NN01 ,  2F065NN13 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065TT08 ,  2F112AC03 ,  2F112AC06 ,  2F112BA03 ,  2F112CA04 ,  2F112FA03 ,  2F112FA31 ,  2F112FA35 ,  2F112FA38 ,  2F112FA45 ,  3C007AS36 ,  3C007CS08 ,  3C007KS03 ,  3C007KS04 ,  3C007KS12 ,  3C007KS13 ,  3C007KS36 ,  3C007KT03 ,  3C007KT04 ,  3C007KT11 ,  3C007WA03 ,  3C007WA13 ,  5B047AA07 ,  5B047BB06 ,  5B047CA11 ,  5B047CA17 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DB02 ,  5B057DC03 ,  5B057DC32 ,  5L096AA09 ,  5L096BA05 ,  5L096CA05 ,  5L096FA66 ,  5L096HA01 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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