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J-GLOBAL ID：200903035455443613

蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法

Inventor： 井村 健二
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 小谷 悦司 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997282257
Publication number (International publication number)：1999118603
Application date： Oct. 15, 1997
Publication date： Apr. 30, 1999
Summary：

【要約】【課題】 蛍光試料の全分光放射輝度率を短時間で、かつ精度良く求める。【解決手段】 積分球2の開口21に蛍光試料1が配置される。第1の照明手段3は、紫外域を含む光束を出力する光源31を有し、光束33が開口22を通って積分球2内に入射する。第2の照明手段4は、光源41、第1の遮断波長以下の波長域を遮断する遮断フィルタ43等からなり、積分球2内に入射する光束44は紫外域が除去される。試料用分光手段5は蛍光試料1からの放射光11の分光強度を検出し、参照用分光手段6は、参照光62の分光強度を検出する。制御部8は、測定データを記憶するRAM82を備え、各データを用いて演算を行って蛍光試料1の全分光放射輝度率を算出する。

Claim (excerpt)：

紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段と、第1の遮断波長より長い波長域の光束を出力する第2の照明手段と、測定位置に配置された蛍光試料を上記第1の照明手段によって照明することにより上記蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を測定し、また上記第2の照明手段によって照明することにより上記蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を測定する分光放射輝度率測定手段と、上記第1、第2の全分光放射輝度率の重み付けを行うための波長毎に求められた重み係数を記憶する記憶手段と、測定した上記第1、第2の全分光放射輝度率及び上記重み係数を用いて下記式に従って上記蛍光試料の全分光放射輝度率を算出する線形結合演算手段とを備えたことを特徴とする蛍光試料の分光特性測定装置。Bt(λ)=A(λ)・Bt1(λ)+{1-A(λ)}・Bt2(λ)ここに、 Bt(λ):上記蛍光試料の全分光放射輝度率A(λ):上記重み係数Bt1(λ):上記第1の全分光放射輝度率Bt2(λ):上記第2の全分光放射輝度率