Pat

J-GLOBAL ID：200903035581789720

試料ガス採取装置及び危険物探知装置

Inventor： 坂入 実 ,  管 正男 ,  橋本 雄一郎 ,  山田 益義
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998192662
Publication number (International publication number)：2000028579
Application date： Jul. 08, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：

【要約】【課題】 危険物探知装置における従来技術は検出感度が十分でなく、危険物の蒸気圧が低い場合や、危険物の量が微量である場合には、濃縮過程を設けない限り検出できないという欠点があった。【解決手段】 上記従来技術の問題を解決するためには、ニトロ化合物に代表される危険物を負のコロナ放電を用いて効率的にイオン化し、生成した負イオンを質量分析計を用いて高感度に検出する。【効果】 危険物の蒸気を高感度に検出することにより、危険物の有無を高速に判定することが可能となる。

Claim (excerpt)：

荷物から漏洩した危険物の蒸気をサンプリングプローブにより採取しそれを負のコロナ放電を用いてイオン化し質量分析計を用いて検出することにより、危険物の有無を判定することを特徴とする危険物探知装置。

IPC (7)：

G01N 27/62 ,  G01N 1/02 ,  G01N 1/22 ,  G01N 1/28 ,  G01N 27/68 ,  G01V 9/00 ,  H01J 49/04

FI (7)：

G01N 27/62 V ,  G01N 1/02 Q ,  G01N 1/22 Z ,  G01N 27/68 B ,  G01V 9/00 A ,  H01J 49/04 ,  G01N 1/28 T

F-Term (3)：

5C038EE01 ,  5C038EF01 ,  5C038GG08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 大気圧イオン化質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-090382   Applicant：日立東京エレクトロニクス株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “Techniques for detecting explosives and contraband”