Pat

J-GLOBAL ID：200903035645530601

核磁気共鳴を用いた検査方法及び検査装置

Inventor： 尾藤 良孝 ,  平田 智嗣 ,  鍋島 貴之 ,  山本 悦治
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立メディコ
Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994109981
Publication number (International publication number)：1995313487
Application date： May. 24, 1994
Publication date： Dec. 05, 1995
Summary：

【要約】【目的】 核磁気共鳴装置において、検査対象の微細構造を測定可能とする。【構成】 核磁気共鳴を用いた検査方法及び検査装置に関し、検査対象に含まれる分子の拡散を利用して該検査対象の微細構造を測定する方法において、励起高周波磁場パルス14によって核磁気共鳴現象を誘起した後、拡散による信号減衰を生じさせる拡散傾斜磁場17,18,19,20,21,22を印加する。拡散傾斜磁場の印加方向を放射状に変化させながら測定を繰り返し、その印加方向での分子の拡散を制限する微細構造の間隔を測定する。【効果】 拡散傾斜磁場を放射状に変化させることで、分子の拡散を制限する微細構造の間隔を、全ての方向について測定できる。

Claim (excerpt)：

励起高周波磁場パルスと信号サンプリングの間に互いに補償する拡散傾斜磁場を印加し、核磁気共鳴信号強度の減衰率から検査対象に含まれる分子の拡散係数を求め、該拡散係数から分子の平均移動距離を求めて前記検査対象の微細構造を測定する核磁気共鳴を用いた検査方法において、前記拡散傾斜磁場の印加方向を放射状に変化させ、各印加方向での分子の平均移動距離から該印加方向における微細構造の間隔を測定することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法。

IPC (2)：

A61B 5/055 ,  G01N 33/48

FI (3)：

A61B 5/05 341 ,  A61B 5/05 382 ,  G01N 24/08 510 Y