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J-GLOBAL ID：200903035708461427

高周波回路アナライザ、高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法およびそれらの較正方法並びにそれらを含む回路の設計を改良および製造する方法。

Inventor：
ベネディクト,ヨハンス

About ベネディクト,ヨハンス

, 
タスカー,ポール,ジュアン

About タスカー,ポール,ジュアン


Applicant, Patent owner：
ユニバーシティ、カレッジ、カーディフ、コンサルタンツ、リミテッド

About ユニバーシティ、カレッジ、カーディフ、コンサルタンツ、リミテッド


Agent (1)： 長門 侃二
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006520909
Publication number (International publication number)：2006528769
Application date： Jul. 23, 2004
Publication date： Dec. 21, 2006
Summary：
【課題】高周波入力信号に電子デバイスの挙動を分析するための改良された分析器と方法、および高周波デバイスを設計して製造する改良方法を提供する。【解決手段】実負荷引き出し回路201は、DUT206から出力信号を受け取って、そのとき、変更された信号をDUT206に提供して戻すDUT206に接続され、その信号は、入力信号x,yを考慮すると信号処理回路237によって変更されて、フィードバック回路237で作用する振幅ゲインと位相変化を制御する。よってポジティブフィードバックループは避けられて分析の制御のためのより良い制御が可能になる。ネットワークアナライザまたは他の信号測定装置242がDUT206のポートで観測された波形(引き出されたs-パラメータから)を記録し、その結果、様々な負荷条件の下におけるDUT206の挙動が分析される。【選択図】図10
Claim (excerpt)：
所定の周波数範囲内における周波数の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答を測定するための高周波回路アナライザであって、 分析される上記電子デバイスの作動中に接続可能な実負荷引き出し回路と、 この実負荷引き出し回路は、フィードバック回路を有し、 (i)分析されるためにデバイスから出力信号を受け取り、 (ii)この出力信号を変更し、そして (iii)分析されるために変更された上記信号を前記電子デバイスに提供して戻し、 前記フィードバック回路は、周波数範囲内のすべての周波数で振幅ゲインを制限することを特徴とする高周波回路アナライザ。
IPC (1)：
G01R 27/28
FI (1)：
G01R27/28 Z
F-Term (11)：
2G028AA05 ,  2G028BD05 ,  2G028CG01 ,  2G028CG19 ,  2G028CG20 ,  2G028CG26 ,  2G028DH15 ,  2G028GL07 ,  2G028LR08 ,  2G028LR10 ,  2G028MS03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特許第6509743号
  • デジタル放送再送信装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-249740   Applicant：株式会社日立製作所
  • 特開昭61-256830
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