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J-GLOBAL ID：200903035709558106

電気法による遺伝子変異の検出方法

Inventor： 山名 一成 ,  齋藤 烈 ,  熊本 諭 ,  川上 直子
Applicant, Patent owner： 独立行政法人 科学技術振興機構
Agent (1)： 佐伯 憲生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003159232
Publication number (International publication number)：2004357570
Application date： Jun. 04, 2003
Publication date： Dec. 24, 2004
Summary：

【課題】本発明は、検出用プローブと被検用の核酸をハイブリダイズさせたときに、塩基対にミスマッチが生じているか否かを簡便な方法で精度よく検出、同定することができる方法を提供する。より詳細には、電気化学的方法によりミスマッチ対の有無を簡便に検出できる方法を提供する。【解決手段】本発明は、電極に固定化された遺伝子検出用プローブと検査対象遺伝子とのハイブリダイゼーション操作を行った後、電極に電位を与え、得られた電荷応答量を測定することからなる検査対象遺伝子と遺伝子検出用プローブとのミスマッチ対を検出する方法に関する。また、本発明は、そのための遺伝子検出用プローブ、それが固定化された電極、当該電極を含むDNAチップ、及びそれを用いた一塩基多型(SNPs)を検出するための装置に関する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

電極に固定化された遺伝子検出用プローブと検査対象遺伝子とのハイブリダイゼーション操作を行った後、電極に電位を与え、得られた電荷応答量を測定することからなる検査対象遺伝子と遺伝子検出用プローブとのミスマッチ対を検出する方法。

IPC (3)：

C12N15/09 ,  C12M1/00 ,  C12Q1/68

FI (4)：

C12N15/00 A ,  C12M1/00 A ,  C12Q1/68 A ,  C12N15/00 F

F-Term (32)：

4B024AA11 ,  4B024AA20 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024HA08 ,  4B024HA12 ,  4B029AA07 ,  4B029AA21 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029FA12 ,  4B029GA08 ,  4B029GB09 ,  4B063QA01 ,  4B063QA13 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QR08 ,  4B063QR32 ,  4B063QR41 ,  4B063QR42 ,  4B063QR50 ,  4B063QR56 ,  4B063QR64 ,  4B063QR82 ,  4B063QS25 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX04

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 川上直子他,電気化学DNAチップによる遺伝子解析,高分子学会予稿集,2003.05.08,Vol.52,No.5,p.1035,I
• 熊本諭他,アントラキノン修飾核酸プローブによるDNA一塩基変異の電気化学検出,日本化学会第83春季年