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J-GLOBAL ID：200903035726030689

波長計測装置

Inventor：
平山 紀友

About 平山 紀友

, 
佐野 安一

About 佐野 安一


Applicant, Patent owner：
富士電機株式会社

About 富士電機株式会社


Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999088789
Publication number (International publication number)：2000283843
Application date： Mar. 30, 1999
Publication date： Oct. 13, 2000
Summary：
【要約】【課題】 波長検出部の機械的な可動部分を不要にし、耐振性を高めると共に、製造コストの低減、歩留まりの向上を図る。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムに適用される。各ブラッグ回折格子FBG1〜FBG4からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能な回折格子型分波器(HOE)21に入射させ、その複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子PDによる光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定する。
Claim (excerpt)：
測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、各ブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能な回折格子型分波器に入射させ、この回折格子型分波器の複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定することを特徴とする波長計測装置。
IPC (6)：
G01J 3/18 ,  G01B 11/00 ,  G01J 5/08 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 ,  G01M 11/00
FI (6)：
G01J 3/18 ,  G01B 11/00 G ,  G01J 5/08 A ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 A ,  G01M 11/00 U
F-Term (18)：
2F065AA21 ,  2F065DD14 ,  2F065FF48 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020BA20 ,  2G020CA17 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CD04 ,  2G020CD13 ,  2G020CD24 ,  2G066BA18 ,  2G086DD04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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