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J-GLOBAL ID：200903035733685739

プロセス診断システム

Inventor： 渡邉 祐子 ,  加藤 一郎
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996102621
Publication number (International publication number)：1997293064
Application date： Apr. 24, 1996
Publication date： Nov. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】プロセス改革やコンサルテーションに必須の現状分析や施策提案書作成の作業時間の短縮を図る。【解決手段】アンケート調査課題に関し質問事項を作成するアンケート設問作成部21と、アンケート回答者の属性を定める分類キーコード定義部22と、前記アンケート調査課題の分析方法を指定する分析方法定義部23と、情報交換媒体に格納された個々の回答結果データを分類キーコードを用いて選別し集計・分析するアンケート集計・分析部24と、分析結果から施策案を導くルールを定義する施策立案ルール定義部25と、指定されたルールを用いて分析結果から改善施策案を作成する施策立案実行部26とを有する。

Claim (excerpt)：

アンケート調査課題に関し質問事項を作成するアンケート設問作成部と,アンケート解答者の属性を定める分類キーコード定義部と,前記アンケート調査課題の分析方法を指定する分析方法定義部と,情報交換媒体に格納された個々の回答結果データを分類キーコードを用いて選別し集計・分析するアンケート集計・分析部と,分析結果から施策案を導くルールを定義する施策立案ルール定義部と,指定されたルールを用いて分析結果から改善施策案を作成する施策立案実行部とを有するプロセス診断装置と、アンケート回答者に設問に回答させ個々の回答結果データを情報交換媒体に格納するアンケート実行部を有するプロセス回答装置と、前記プロセス診断装置から前記プロセス回答装置へアンケート調査課題の質問事項を伝達し,前記プロセス回答装置から前記プロセス診断装置へ前記質問事項に関する回答結果データを伝達する情報交換媒体とを有することを特徴とするプロセス診断システム。

IPC (2)：

G06F 17/00 ,  G06F 17/60

FI (2)：

G06F 15/20 N ,  G06F 15/21 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-216164
  
• 特開平4-127353
  
• 特開平4-372080