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J-GLOBAL ID：200903035797824333

被検物測定装置

Inventor：
岡野 弘佳

About 岡野 弘佳


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002311005
Publication number (International publication number)：2004144652
Application date： Oct. 25, 2002
Publication date： May. 20, 2004
Summary：
【課題】被検物測定装置において、放射線撮影により取得された被検物を表す画像データに基づいて測定対象部位の実際の厚さを定量的に測定する。【解決手段】一定の材質からなる金属板1およびこの金属板1と同じ材質からなり既知の互いに異なる実厚さを有する複数の参照サンプル5A、5B、5Cに対して放射線を厚さ方向に通す放射線撮影を実施して取得された画像データE1を画像入力部35から入力し、この画像データが表す画像を表示画面11上に表示させ、各参照サンプルの画像上における位置を入力ペン20で入力し、各参照サンプルの実厚さの値をキーボードから入力し、金属板1中の厚さを測定しようとする測定対象部位2の画像上における位置をマウス25で入力し、演算手段50Aにより、各参照サンプルの画像上の濃度と各参照サンプルの実厚さとの対応関係に基づいて、測定対象部位2の画像上の濃度を実厚さに換算してこの測定対象部位2の実厚さの値を求める。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
一定の材質からなる被検物および前記被検物と同じ材質からなり既知の互いに異なる実厚さを有する複数の参照サンプルに対して放射線を厚さ方向に通す放射線撮影を実施して取得された画像データを入力する画像データ入力手段と、 前記画像データが表す画像を表示画面上に表示させる表示手段と、 前記表示画面上に表示された各参照サンプルの画像上におけるそれぞれの位置を入力する位置入力手段と、 各参照サンプルそれぞれの実厚さの値を入力する実厚さ入力手段と、 前記表示画面上に表示された前記被検物の、厚さを測定しようとする測定対象部位の画像上における位置を入力する測定位置入力手段と、 各参照サンプルそれぞれの画像上の濃度と該各参照サンプルの実厚さとの対応関係に基づいて、前記測定対象部位の画像上の濃度を実厚さに換算して該測定対象部位の実厚さの値を求める演算手段と、 前記演算手段によって求められた前記実厚さの値を表示する結果表示手段とを備えたことを特徴とする被検物測定装置。
IPC (3)：
G01B15/02 ,  G01N23/04 ,  G06T1/00
FI (3)：
G01B15/02 A ,  G01N23/04 ,  G06T1/00 300
F-Term (45)：
2F067AA27 ,  2F067AA57 ,  2F067AA58 ,  2F067EE04 ,  2F067EE05 ,  2F067GG04 ,  2F067GG07 ,  2F067HH09 ,  2F067JJ08 ,  2F067KK06 ,  2F067RR21 ,  2F067RR35 ,  2F067SS13 ,  2F067SS15 ,  2G001AA01 ,  2G001AA02 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA02 ,  2G001DA09 ,  2G001FA02 ,  2G001FA14 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001HA15 ,  2G001JA12 ,  2G001JA17 ,  2G001KA03 ,  2G001KA11 ,  2G001MA05 ,  2G001SA12 ,  5B057AA01 ,  5B057AA17 ,  5B057BA03 ,  5B057BA24 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC30 ,  5B057DC33
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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