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J-GLOBAL ID：200903035819880011
IC試験装置におけるスキュー調整方法及びこれに用いる疑似デバイス
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998091727
Publication number (International publication number)：1999287844
Application date： Apr. 03, 1998
Publication date： Oct. 19, 1999
Summary：
【要約】【課題】 IC試験装置のスキュー調整を正確に行うことができるスキュー調整方法とこの調整方法に用いる疑似デバイスを提供する。【解決手段】 被試験ICを試験装置に接続するICソケットの各端子に接続されるピンカードの中から基準となるピンカードを選定し、この基準と定めたピンカードの電圧比較器CPN に順次他のピンカードのドライバDRを疑似デバイス12を通じて接続し、各ピンカードのドライバの遅延位相を基準と定めた遅延位相に合致するように設定して全てのピンカードのスキュー調整を完了する。
Claim (excerpt)：
試験パターンデータが与えられ、この試験パターンデータに従ってH論理及びL論理の電圧値を持つアナログ波形を持つ試験パターン信号を生成する波形発生器と、この波形発生器が生成した試験パターン信号を増幅して被試験ICの入力端子に与えるドライバと、被試験ICが出力する応答出力信号を取込み、所定のL論理電圧及びH論理電圧を具備しているか、否かを判定する電圧比較とを搭載して構成されるピンカードと、このピンカードに被試験ICの各端子を電気的に接続するICソケットとによって構成されるIC試験装置において、上記ピンカードの中の何れかに搭載された電圧比較器を基準検出手段と定めると共に、この基準検出手段を搭載したピンカードと他のピンカードとを上記ICソケット上で接続する疑似デバイスを上記ICソケットの端子の数に対応させて用意し、複数の疑似デバイスを順次上記ICソケットに装着し、上記基準検出手段の検出タイミングに上記各ピンカードの各ドライバの駆動タイミングを調整することを特徴とするIC試験装置におけるスキュー調整方法。
IPC (2)：
FI (3)：
G01R 31/28 H
, G01R 31/28 P
, G01R 31/28 R
